Nowy interferometr światła białego IMS5600-DS służy do pomiarów odległości z najwyższą precyzją. Sterownik oferuje specjalną kalibrację z inteligentną oceną i umożliwia pomiary absolutne z rozdzielczością poniżej nanometru.
Interferometr jest używany do zadań pomiarowych o najwyższych wymaganiach dokładności, np. w produkcji elektroniki i półprzewodników.
Właściwości:
- Pomiar odległości z dokładnością poniżej nanometru
- Najlepsza w swojej klasie: rozdzielczość <30 pikometrów
- Pomiar absolutny, odpowiedni dla profili stopni
- Kompaktowe i wytrzymałe czujniki o dużym offsecie
- Częstotliwość pomiaru do 6 kHz dla pomiarów z dużą prędkością
- Ethernet, EtherCAT, RS422
- Łatwa konfiguracja za pomocą interfejsu internetowego
- Czujniki i przewody odpowiednie do próżni
Absolutny pomiar odległości z dużym zakresem pomiarowym i offsetem
Zaprojektowany do pomiarów odległości o wysokiej rozdzielczości w próżni
Interferometry IMS5600-DS mogą być używane do zadań pomiarowych w próżni i pomieszczeniach sterylnych, gdzie osiągają rozdzielczość w zakresie subnanometrów. Do zastosowań próżniowych Micro-Epsilon oferuje specjalne czujniki, przewody i akcesoria przepustowe. Te czujniki i przewody są w znacznym stopniu wolne od cząstek stałych i mogą być używane w pomieszczeniach sterylnych i UHV.
Stabilne pomiary odległości z najwyższą precyzją
Sterownik można zamontować w szafie sterowniczej poprzez montaż na szynie DIN i zapewnia bardzo stabilne wyniki pomiarów dzięki aktywnej kompensacji temperatury i pasywnemu chłodzeniu. Te kompaktowe czujniki zajmują wyjątkowo mało miejsca i mają bardzo elastyczne przewody światłowodowe.
Długości przewodów do 10 m pozwalają na oddzielenie czujnika i sterownika. Czujnik można łatwo i szybko ustawić dzięki zintegrowanemu laserowi z celownikiem. Uruchamianie i parametryzacja odbywa się wygodnie poprzez interfejs sieciowy i nie wymaga instalacji oprogramowania.
Pomiar na wielu powierzchniach
Interferometryczna metoda pomiarowa umożliwia pomiary na wielu powierzchniach. Umożliwia to bardzo precyzyjne pomiary odległości na metalach odbijających światło, tworzywach sztucznych i szkle.