Nowy wysokowydajny mikrometr LED optoCONTROL 2700 zapewnia niezrównaną dokładność w wymagających zadaniach pomiarowych.
Grubość, szczeliny, krawędzie i fragmenty mogą być mierzone z wysoką precyzją. Można wykonywać precyzyjne pomiary małych obiektów od 0,3 mm. Mikrometr precyzyjny LED oferuje liniowość ≤ 1 µm i rozdzielczość cyfrową 10 nm. Jest on stosowany na przykład w produkcji półprzewodników, przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i technologii medycznej.
Decydującą zaletą jest telecentryczna optyka, która znacznie optymalizuje dokładność pomiaru. Obiekt pomiarowy jest równomiernie oświetlony, a korekcja nachylenia w czasie rzeczywistym zapewnia niezwykle dokładne wyniki pomiarów, nawet gdy obiekt pomiarowy jest ustawiony pod kątem lub pochylony. Prostopadłe ustawienie obiektu pomiarowego nie jest zatem konieczne.
Niezależnie od tego, czy chodzi o obiekty silnie odbijające światło, takie jak rolki, czy obiekty przezroczyste, takie jak płytki szklane - te innowacyjne mikrometry oferują optymalne rozwiązanie wszędzie tam, gdzie wymagana jest maksymalna precyzja i niezawodność.
Oprócz precyzyjnych pomiarów, zintegrowana funkcja wykrywania zanieczyszczeń oferuje proaktywne rozwiązanie do wykrywania zanieczyszczeń lub ciał obcych na powierzchni pomiarowej.
Funkcja ta pomaga uniknąć błędów pomiarowych i podnieść jakość wyników do najwyższego poziomu.
Dzięki zintegrowanemu kontrolerowi nie jest wymagana zewnętrzna jednostka sterująca, a czas potrzebny na okablowanie i instalację jest zminimalizowany.
Cała konfiguracja mikrometru LED odbywa się za pośrednictwem zintegrowanego interfejsu internetowego. Interfejs sieciowy jest dostępny za pośrednictwem interfejsu Ethernet i umożliwia szybkie i łatwe ustawienie np. uśredniania lub szybkości pomiaru oraz oferuje szerokie opcje parametryzacji dla każdego zadania pomiarowego.
Sześć ustawień wstępnych umożliwia szybką i łatwą konfigurację zadania pomiarowego. Interfejs sieciowy oferuje również skalowalny czarno-biały obraz ułatwiający osiowanie. Umożliwia to optymalne graficzne pozycjonowanie mikrometru lub obiektu pomiarowego.
