Rozwiązania i Komponenty dla AutomatykiSolutions and Components for Automation

Pomiar grubości w linii produkcyjnej ze zwiększoną wydajnością

Systemy pomiaru grubości OEM inline thicknessGAUGE są teraz jeszcze bardziej wydajne. Zapraszamy do zobaczenia systemu na żywo na targach Control Stom w Kielcach w dniach 19-22.03.2024.

01.03.2024

Pomiar grubości w linii produkcyjnej ze zwiększoną wydajnością

Systemy pomiaru grubości OEM inline thicknessGAUGE są teraz jeszcze bardziej wydajne. Systemy te są dostępne w trzech różnych wersjach: z czujnikami laserowymi, skanerami laserowymi lub konfokalnymi czujnikami chromatycznymi, które umożliwiają optymalne wyniki pomiarów dla wielu obiektów pomiarowych.

Wraz z przejściem na nowe modele czujników, mierzą one teraz szybciej i w większych zakresach pomiarowych. Trzy różne typy czujników pozwalają na łatwe dostosowanie systemów do zadania pomiarowego i zapewniają wysoki stopień elastyczności w odniesieniu do powierzchni i materiału.

Jako systemy "pod klucz", systemy thicknessGAUGE oferują wydajną technologię czujników Micro-Epsilon, a także kompleksowe oprogramowanie sterujące i oceniające, mechaniczną oś przesuwu i automatyczną kalibrację. Wymagane napięcie zasilania 24 V również zmniejsza wysiłek wymagany do integracji.

Dzięki jednostce liniowej z napędem elektromechanicznym, te kompaktowe C-frame mogą być pozycjonowane na stałym torze i mogą również wykonywać pomiary w ruchu. Automatyczna jednostka kalibracyjna kompensuje wpływ temperatury na system. Zaawansowany pakiet oprogramowania jest dostępny za pośrednictwem wielodotykowego panelu IPC wchodzącego w zakres dostawy.

Zapraszamy Państwa do Kielc na targi Techniki Pomiarowej Control Stom, które odbędą się w dniach 19-22 marca 2024 roku.

Na stoisku WObit o numerze 04 w hali F zaprezentujemy właśnie system do pomiaru grubości thicknessGAUGE.

 

 

×

Przeczytaj także

 Neco® - nowa generacja przekładni cykloidalnych
Neco® - nowa generacja przekładni cykloidalnych

W ofercie WObit dostępna jest nowa seria Neco® przekładni cykloidalnych gotowych do użycia, przygotowanych do zamocowania na serwonapędzie.

Zobacz więcej »
Interferometr światła białego o zakresie pomiarowym 2,1 mm i subnanometrowej rozdzielczości
Interferometr światła białego o zakresie pomiarowym 2,1 mm i subnanometrowej rozdzielczości

W ofercie WObit dostępny jest nowy interferometr światła białego IMS5600-DS firmy Micro-Epsilon umożliwiający pomiar odległości i przemieszczenia z rozdzielczością <30 pm w zakresie do 2,1 mm.

Zobacz więcej »