Firma Micro-Epsilon rozszerza ofertę interferometrów światła białego z serii interferoMETER o specjalistyczny model czujnika – IMP DS35/VAC. Urządzenie zostało zaprojektowane z myślą o pracy w środowiskach próżniowych, w tym w warunkach ultra-wysokiej próżni (UHV). Oferuje bezkontaktowy, absolutny pomiar odległości o rozdzielczości poniżej 1 nanometra, przy zachowaniu dużej odległości początkowej (offsetu) wynoszącej około 35 mm. Nowy czujnik jest już dostępny w ofercie firmy WObit – autoryzowanego dystrybutora Micro-Epsilon w Polsce.
Duży offset (35 mm) i wysoka precyzja dla trudnodostępnych punktów pomiarowych
Czujnik interferoMETER IMP DS35/VAC charakteryzuje się zakresem pomiarowym wynoszącym 2,1 mm oraz początkową wartością offsetu na poziomie ok. 35 mm. Tak duży odstęp roboczy umożliwia bezpieczne i precyzyjne monitorowanie procesów bez ryzyka uszkodzenia badanego obiektu lub samego czujnika.
Rozwiązanie to sprawdza się m.in. przy:
monitorowaniu położenia w procesie produkcji płytek szklanych,
pomiarach na płytkach powlekanych,
aplikacjach w punktach pomiarowych położonych nisko lub w trudno dostępnych miejscach.
Niezwykle mała średnica plamki świetlnej – wynosząca zaledwie 15 µm – pozwala na stabilną detekcję nawet bardzo małych struktur. Dopuszczalny kąt pomiarowy wynoszący ±1° gwarantuje powtarzalne i wiarygodne wyniki pomiarów nawet w wymagających warunkach montażowych.
Przystosowanie do ultra-wysokiej próżni (UHV) i obsługa do 13 warstw
Obudowa czujnika IMP DS35/VAC została wykonana z trwałej stali nierdzewnej, co zapewnia pełną kompatybilność z wymaganiami środowisk próżniowych (w tym UHV).
Czujnik współpracuje z zaawansowanymi kontrolerami z serii IMS5400 oraz IMS5400MP, zapewniając parametry pomiarowe na najwyższym poziomie:
Rozdzielczość:< 1 nm
Liniowość:< ±50 nm
Pomiary wielopunktowe i wielowarstwowe
W połączeniu ze sterownikiem IMS5400MP system umożliwia wykonywanie wielopunktowych pomiarów odległości na maksymalnie 13 warstwach jednocześnie. Otwiera to zupełnie nowe możliwości w zakresie dokładnej analizy materiałów przezroczystych, powlekanych oraz struktur wielowarstwowych w nowoczesnych procesach produkcyjnych i kontrolnych.
Najważniejsze parametry techniczne IMP DS35/VAC
| Parametr | Wartość |
| Zakres pomiarowy | 2,1 mm |
| Początkowy offset | ok. 35 mm |
| Rozdzielczość | < 1 nm |
| Liniowość | < ±50 nm |
| Średnica plamki świetlnej | 15 µm |
| Kąt pomiarowy | ±1° |
| Środowisko pracy | Próżnia / Ultra-wysoka próżnia (UHV) |
| Materiał obudowy | Stal nierdzewna |
| Kompatybilne kontrolery | IMS5400, IMS5400MP (do 13 warstw) |
Pomiary nanometryczne w próżni z WObit
Jako wieloletni partner i dystrybutor marki Micro-Epsilon w Polsce, firma WObit zapewnia pełne wsparcie techniczne przy doborze odpowiednich systemów pomiarowych, w tym czujników i kontrolerów serii interferoMETER.
Zapraszamy do kontaktu z naszymi specjalistami, aby dowiedzieć się więcej o możliwościach integracji czujnika IMP DS35/VAC w Państwa procesach produkcyjnych i badawczych.
